上海****公司
企业详情 >相似采购商 >

立即查看

立即引荐

立即监控
立即查看
立即引荐
立即监控
台阶仪 | BRUKER | 380000.00 | 按行业标准提供服务 | 一. 主要技术参数 1. 最大扫描长度≥55mm; 2. 测试所允许的最大样品厚度≥50mm; 3. 垂直方向的扫描范围≥1000um; 4. 测试高度方向的重复性≤1nm(1微米的标准台阶); 5. 测试垂直分辨率≤0.1nm 6.光学系统:彩色CCD 180x放大倍率 7.样品台尺寸:不小于8英寸,配置真空吸附功能;具备10nm、100nm及10um测试标准块,提供标准块的校准证书;具备主动式气浮减震光学平台,保证设备的稳定性; 8. 探针压力范围不小于1-15mg,且可连续调节,能精确控制探针压力,保证在不同力下不破坏样品。 9.系统具有超光滑平面,保证扫描基线稳定性 10.提供专用分析软件并终身免费升级 11.多次扫描分析≥30次 12. 仪器采用成熟的LVDT传感器,保证仪器稳定性,数据重复性和可靠性 13.单次扫描最大采样点数120,000 14. 标配有快速更换探针附件工具,而不是固定在设备主机上 15. 仪器配有环境保护罩,防止静电环境影响 16.计算机配置,最新64位,最新win11操作系统酷睿i5处理器, 500G硬盘,4G内存,23寸显示器,保证数据处理的流畅 17. 具备薄膜应力测量功能 二. 配置要求 1. 台阶仪主机一套:包含LVDT传感器、数据处理系统及专用分析软件。 2. 曲率半径为2μm金刚石探针一根。 3. 仪器操作手册和维护手册。 | 1.0 | DektakXT | 380000.00 | ****点击查看 |